Raster-Elektronenmikroskopie (German Edition)

0 avg rating
( 0 ratings by Goodreads )
 
9783540081548: Raster-Elektronenmikroskopie (German Edition)

1. 1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektron- mikroskopes (SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 . . 1. 2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop . . . . . . . . . . . . . 3 1. 3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektron- strahlgeraten . . . . . . . . . . . . . . 9 Literatur zu 1 . . . . . . . . . . . . . . . 14 Monographien, Tagungsbande und Bibliographien 14 2. Wechselwirkung Elektron-Materie 2. 1. Einleitung 16 2. 2. Elektronenstreuung am Einzelatom 17 2. 2. 1. Elastische Streuung . . . . 17 2. 2. 2. Unelastische Streuung 18 2. 3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht 21 2. 3. 1. Winkelverteilung gestreuter Elektronen 21 2. 3. 2. Transmission als Funktion der Beobachtungsapertur 23 2. 3. 3. Ortsverteilung gestreuter Elektronen . 24 2. 3. 4. Energieverteilung gestreuter Elektronen 25 2. 4. Elektronendiffusion in kompaktem Material 28 2. 4. 1. Transmission und Reichweite 28 2. 4. 2. Ausdehnung der Diffusionswolke . . 31 2. 4. 3. Ionisationsdichte und Tiefendosiskurve 33 2. 5. Ruckstreuung und Sekundarelektronen-Emission 34 2. 5. 1. Definition und Messung dieser GraBen . . 34 2. 5. 2. Ruckstreukoeffizient einer dunnen Schicht, Austrittstiefe 36 2. 5. 3. Ruckstreukoeffizient von kompaktem Material . . . . 37 2. 5. 4. Richtungs-und Energieverteilung ruckgestreuter Elektronen 40 2. 5. 5. Ausbeute, Energie und Austrittstiefe der Sekundarelektronen 41 2. 5. 6. Beitrag der ruckgestreuten Elektronen zur Sekundarelektron- ausbeute . . . . . . . . . . . . . . . 45 2. 5. 7. Rauschen der Sekundarelektronenemission . . . . . . . . . 45 VIII Inhalt 2. 6. Ausbreitung der Elektronen in Kristallen . . . . 47 2. 6. 1. Das Elektronenwellenfeld in einem Kristall 47 2. 6. 2. Beugung in Transmission . . . . . . . . 51 2. 6. 3. EinfluB der Beugung auf die Riickstreuung . 54 Literatur zu 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . 56 3.

"synopsis" may belong to another edition of this title.

Language Notes:

Text: German

"About this title" may belong to another edition of this title.

Buy New View Book
List Price: US$ 69.99
US$ 59.03

Convert Currency

Shipping: US$ 8.00
From United Kingdom to U.S.A.

Destination, Rates & Speeds

Add to Basket

Top Search Results from the AbeBooks Marketplace

1.

L. Reimer, G. Pfefferkorn
Published by Springer Berlin Heidelberg 1977-06-01, Berlin (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New paperback Quantity Available: > 20
Seller:
Blackwell's
(Oxford, OX, United Kingdom)
Rating
[?]

Book Description Springer Berlin Heidelberg 1977-06-01, Berlin, 1977. paperback. Book Condition: New. Bookseller Inventory # 9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 59.03
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 8.00
From United Kingdom to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

2.

Reimer, L.
Published by Springer (2016)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Paperback Quantity Available: 1
Print on Demand
Seller:
Ria Christie Collections
(Uxbridge, United Kingdom)
Rating
[?]

Book Description Springer, 2016. Paperback. Book Condition: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Bookseller Inventory # ria9783540081548_lsuk

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 68.05
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 5.17
From United Kingdom to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

3.

L. Reimer
Published by Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Quantity Available: > 20
Print on Demand
Seller:
Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, United Kingdom)
Rating
[?]

Book Description Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, 1977. PAP. Book Condition: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 3 to 5 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Bookseller Inventory # LQ-9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 61.99
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 12.00
From United Kingdom to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

4.

RASTER-ELEKTRONENMIKROSKOPIE -
Published by Springer (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Paperback Quantity Available: 1
Seller:
Herb Tandree Philosophy Books
(Stroud, GLOS, United Kingdom)
Rating
[?]

Book Description Springer, 1977. Paperback. Book Condition: NEW. 9783540081548 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. For all enquiries, please contact Herb Tandree Philosophy Books directly - customer service is our primary goal. Bookseller Inventory # HTANDREE0325805

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 64.54
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 10.66
From United Kingdom to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

5.

L. Reimer
Published by Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Quantity Available: > 20
Print on Demand
Seller:
Pbshop
(Wood Dale, IL, U.S.A.)
Rating
[?]

Book Description Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, 1977. PAP. Book Condition: New. New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Bookseller Inventory # IQ-9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 78.35
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 3.99
Within U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

6.

Reimer, L.; Pfefferkorn, G.
Published by Springer (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Paperback Quantity Available: 10
Print on Demand
Seller:
Ergodebooks
(RICHMOND, TX, U.S.A.)
Rating
[?]

Book Description Springer, 1977. Paperback. Book Condition: New. This item is printed on demand. Bookseller Inventory # INGM9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 79.34
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 4.99
Within U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

7.

Reimer, L.
Published by Springer
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Softcover Quantity Available: 1
Print on Demand
Seller:
Ohmsoft LLC
(Lake Forest, IL, U.S.A.)
Rating
[?]

Book Description Springer. Book Condition: New. Worldwide shipping. FREE fast shipping inside USA (express 2-day delivery also available). Tracking service included. Ships from United States of America. Print on Demand. Bookseller Inventory # 3540081542

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 85.45
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: FREE
Within U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

8.

G. Pfefferkorn
Published by Springer Jun 1977 (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Taschenbuch Quantity Available: 1
Seller:
BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K.
(Bergisch Gladbach, Germany)
Rating
[?]

Book Description Springer Jun 1977, 1977. Taschenbuch. Book Condition: Neu. Neuware - 1. 1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektron- mikroskopes (SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 . . 1. 2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop . . . . . . . . . . . . . 3 1. 3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektron- strahlgeraten . . . . . . . . . . . . . . 9 Literatur zu 300 pp. Deutsch. Bookseller Inventory # 9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 66.56
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 20.13
From Germany to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

9.

G. Pfefferkorn
Published by Springer Jun 1977 (1977)
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Taschenbuch Quantity Available: 1
Seller:
Rheinberg-Buch
(Bergisch Gladbach, Germany)
Rating
[?]

Book Description Springer Jun 1977, 1977. Taschenbuch. Book Condition: Neu. Neuware - 1. 1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektron- mikroskopes (SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 . . 1. 2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop . . . . . . . . . . . . . 3 1. 3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektron- strahlgeraten . . . . . . . . . . . . . . 9 Literatur zu 300 pp. Deutsch. Bookseller Inventory # 9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 66.56
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: US$ 20.13
From Germany to U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

10.

L. Reimer
Published by Springer
ISBN 10: 3540081542 ISBN 13: 9783540081548
New Paperback Quantity Available: > 20
Seller:
BuySomeBooks
(Las Vegas, NV, U.S.A.)
Rating
[?]

Book Description Springer. Paperback. Book Condition: New. 300 pages. Dimensions: 9.5in. x 6.6in. x 0.7in.1. 1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektron- mikroskopes (SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 . . 1. 2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop . . . . . . . . . . . . . 3 1. 3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektron- strahlgeraten . . . . . . . . . . . . . . 9 Literatur zu 1 . . . . . . . . . . . . . . . 14 Monographien, Tagungsbande und Bibliographien 14 2. Wechselwirkung Elektron-Materie 2. 1. Einleitung 16 2. 2. Elektronenstreuung am Einzelatom 17 2. 2. 1. Elastische Streuung . . . . 17 2. 2. 2. Unelastische Streuung 18 2. 3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht 21 2. 3. 1. Winkelverteilung gestreuter Elektronen 21 2. 3. 2. Transmission als Funktion der Beobachtungsapertur 23 2. 3. 3. Ortsverteilung gestreuter Elektronen . 24 2. 3. 4. Energieverteilung gestreuter Elektronen 25 2. 4. Elektronendiffusion in kompaktem Material 28 2. 4. 1. Transmission und Reichweite 28 2. 4. 2. Ausdehnung der Diffusionswolke . . 31 2. 4. 3. Ionisationsdichte und Tiefendosiskurve 33 2. 5. Ruckstreuung und Sekundarelektronen-Emission 34 2. 5. 1. Definition und Messung dieser GraBen . . 34 2. 5. 2. Ruckstreukoeffizient einer dunnen Schicht, Austrittstiefe 36 2. 5. 3. Ruckstreukoeffizient von kompaktem Material . . . . 37 2. 5. 4. Richtungs-und Energieverteilung ruckgestreuter Elektronen 40 2. 5. 5. Ausbeute, Energie und Austrittstiefe der Sekundarelektronen 41 2. 5. 6. Beitrag der ruckgestreuten Elektronen zur Sekundarelektron- ausbeute . . . . . . . . . . . . . . . 45 2. 5. 7. Rauschen der Sekundarelektronenemission . . . . . . . . . 45 VIII Inhalt 2. 6. Ausbreitung der Elektronen in Kristallen . . . . 47 2. 6. 1. Das Elektronenwellenfeld in einem Kristall 47 2. 6. 2. Beugung in Transmission . . . . . . . . 51 2. 6. 3. EinfluB der Beugung auf die Riickstreuung . 54 Literatur zu 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . 56 3. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN. Paperback. Bookseller Inventory # 9783540081548

More Information About This Seller | Ask Bookseller a Question

Buy New
US$ 94.67
Convert Currency

Add to Basket

Shipping: FREE
Within U.S.A.
Destination, Rates & Speeds

There are more copies of this book

View all search results for this book