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Alfonso J. Vázquez Vaamonde, Juan J. de Damborenea González

Published by CSIC, Madrid (2000)

ISBN 10: 8400079205 ISBN 13: 9788400079208

Used Rústica

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From: Librería Antonio Azorín (San Lorenzo de El Escorial, M, Spain)

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About this Item: CSIC, Madrid, 2000. Rústica. Condition: Muy Buen estado. Seller Inventory # 10457

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Juan J. Damborenea González; Alfonso J. Vázquez Vaamonde

Published by CSIC, España (2000)

ISBN 10: 8400079205 ISBN 13: 9788400079208

New Encuadernación de tapa blanda

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From: KALAMO LIBROS, S.L. (Madrid, MADRI, Spain)

Seller Rating: 4-star rating

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About this Item: CSIC, España, 2000. Encuadernación de tapa blanda. Condition: Nuevo. 632 pp. Sumario.- 1: Preparaciones superficiales, interfases y subsuperficiales. 2: Diseño y corrosion. 3: Corrosion a temperatura elevada. 4: Materiales pulvimetalúrgicos. 5: Transformaciones en estado sólido. 6: Tensiones internas superficiales. 7: Endurecimiento superficial. 8: Recargue superficial. 9: Proyeccion por plasma. 10: Recubrimientos para proyección térmica de alta velocidad. 11: Tratamientos superficiales mediante láser. 12: Tratamientos superficiales mediante energía solar. 13: Modificación de superficies por implantación iónica. 14: Recubrimientos por electrodeposición. 15: Recubrimientos por redución química auto-catalítica. 16: Recubrimientos por inmersión en metal fundido. 17: Galvanización en continuo. 18: Deposición física en fase vapor. 19: Deposición química en fase vapor. 20: Recubrientos cerámicos. 21: Recubrimientos vítreos producidos por sol-gel. 22: Técnicas electroquímicas de corriente continua. 23: Espectroscopia de impedancia electroquímica. 24: Ruido electroquímico. 25: Caracterización mecánica de superficies. fricción y desgaste. 26: Tribocorrosión de materiales metálicos. 27: Microscopía electrónica de barrido y microanálisis. 28: Microscopía electrónica de transmisión. 29: microscopía de efecto túnel y de fuerzas atómicas. 30: espectroscopía Mössauer. 31: Espectroscopía Raman. 32: Espectroscopía fotoelectrónica. 33: Espectroscopía de electrones Euger. 34: Espectroscopía de absorción de rayos X. 35: Espectroscopía con lámpara de descarga luminiscente. Seller Inventory # CSC970CSC

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