Items related to Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation...
- PublisherSpringer Vieweg
- Publication date2023
- ISBN 10 3658409568
- ISBN 13 9783658409562
- BindingPaperback
- LanguageGerman
- Edition number3
- Number of pages232
Buy New
View this item
US$ 46.73
US$ 26.09 shipping from Germany to U.S.A.
Destination, rates & speedsSearch results for Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation...
Seller Image
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Published by
Springer Fachmedien Wiesbaden Mai 2023, 2023
ISBN 10: 3658409568
ISBN 13: 9783658409562
New
Taschenbuch
Seller: Rheinberg-Buch Andreas Meier eK, Bergisch Gladbach, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware -Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall,Gaskonzentration und pH-Wert behandelt. 232 pp. Deutsch. Seller Inventory # 9783658409562
Quantity: 1 available
Seller Image
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Published by
Springer Fachmedien Wiesbaden Mai 2023, 2023
ISBN 10: 3658409568
ISBN 13: 9783658409562
New
Taschenbuch
Seller: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware -Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall,Gaskonzentration und pH-Wert behandelt. 232 pp. Deutsch. Seller Inventory # 9783658409562
Quantity: 1 available
Seller Image
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen : Simulation mit PSPICE
Published by
Springer, Berlin, Springer Fachmedien Wiesbaden, Springer Vieweg, 2023
ISBN 10: 3658409568
ISBN 13: 9783658409562
New
Taschenbuch
Seller: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware - Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall,Gaskonzentration und pH-Wert behandelt. Seller Inventory # 9783658409562
Quantity: 1 available
Seller Image
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen | Simulation mit PSPICE
Seller: preigu, Osnabrück, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Taschenbuch. Condition: Neu. Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen | Simulation mit PSPICE | Peter Baumann | Taschenbuch | Deutsch | Springer Vieweg | EAN 9783658409562 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Seller Inventory # 132433932
Quantity: 1 available