Advances in X-Ray Diffractometry and X-Ray Spectrography: A Volume of Fifteen Selected Reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A.

Parrish, William:

Published by Centrex, 1962

About this Item

233 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Original-Schutzumschlag vorhanden (siehe Foto). In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 505.

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Bibliographic Details

• Title: Advances in X-Ray Diffractometry and X-Ray Spectrography: A Volume of Fifteen Selected Reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A.
• Publisher: Centrex
• Publication Date: 1962
• Language: English
• Binding: gebundene Ausgabe
• Condition: Gut
• Dust Jacket Condition: Dust Jacket Included
• Weight: 505 grams
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