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Bibliographic Details

Title

The BUGBOOK 1. Logic & Memory Experiments. Using TTL Itegrated Circuits.

Publisher

E&L Instruments INC:

Publication Date

1974

Language

German

Binding

Softcover/Paperback

Condition

Gut

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Sitz der Gesellschaft: Fachbuecher-Weltversand NEPO UG Bahnhofsplatz 1 65428 R�sselsheim am Main eingetragen im Handelsregister des Amtsgerichtes Darmstadt Handelsregisternummer HRB 103822 ** Versandanschrift: Fachbuecher-Weltversand NEPO UG Bahnhofsplatz 1 65428 R�sselsheim am Main eingetragen im Handelsregister des Amtsgerichtes Darmstadt Handelsregisternummer HRB 103822 ** kundenservice @ fachbuecher-weltversand.de Umsatzsteuer-Identifikationsnummer gem�� 27a Umsatzsteuergesetz DE240798524

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