Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Language: English
Published by Cambridge University Press, 2010
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: Este libro, actualizado para cubrir los desarrollos recientes, abarca las técnicas estrechamente relacionadas del análisis de microsonda electrónica (EMPA) y la microscopía electrónica de barrido (SEM) específicamente desde un punto de vista geológico. Los temas tratados incluyen: principios de las interacciones electrón-blanco, instrumentación de haz de electrones, espectrometría de rayos X, principios generales de la formación de imágenes SEM, producción de 'mapas' de rayos X que muestran distribuciones elementales, procedimientos para el análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X (tanto de dispersión de energía como de dispersión de longitud de onda), el uso de 'verdaderas' microsondas electrónicas y SEM equipados con espectrómetros de rayos X, y asuntos prácticos como la preparación de muestras y el tratamiento de resultados. Se hace hincapié en los aspectos geológicos no mencionados en libros similares dirigidos a un público más general. El libro evita detalles técnicos innecesarios para ser fácilmente accesible, y forma un texto actualizado sobre EMPA y SEM para investigadores geológicos de postgrado y postdoctorado, así como para aquellos que trabajan en laboratorios industriales. EAN: 9780521142304 Tipo: Libros Categoría: Ciencias Título: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology Autor: S. J. B. Reed Idioma: en Páginas: 212 Formato: Tapa blanda.…
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- Title
- Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
- Author
- S. J. B. Reed
- Publisher
- Cambridge University Press
- Publication year
- 2010
- Condition
- Very Good
- Binding
- Soft cover
- Language
- English
- ISBN 10
- 052114230X
- ISBN 13
- 9780521142304
- Edition
- 2nd Edition
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